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Imagerie par diffraction cohérente des rayons X : méthodes et applications aux nanostructures de semi-conducteurs
Vincent Favre-Nicolin  1, *, @  , Marta Elzo Aizarna  2  , Ondrej Mandula  2, 3  , Joel Eymery  2, @  , Gilbert Chahine  1  , François Andrieu  4  , Odile Robach  5, @  , Julien Claudon  2, @  , Joël Bleuse  2, @  , Jean-Michel Gérard  2  
1 : ESRF-The European Synchrotron  (ESRF)  -  Site web
ESRF
Grenoble -  France
2 : Institut Nanosciences et Cryogénie  (INAC)  -  Site web
Université Grenoble Alpes, CEA
Grenoble -  France
3 : Fondation Nanosciences
Université Grenoble Alpes
Grenoble -  France
4 : Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information  (LETI)  -  Site web
CEA
MINATEC 17, rue des Martyrs, 38054, Grenoble Cedex 9 -  France
5 : Institut Nanosciences et Cryogénie  (INAC)  -  Site web
Université Grenoble Alpes
Grenoble -  France
* : Auteur correspondant
Type : : Conférence semi-plénière
Thématiques : Conférences semi-plénières
Mots-Clés : diffraction cohérente ; rayons X ; nano ; structures ; semi ; conducteurs ; imagerie ; synchrotron
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